技术文章 / article 您的位置:网站首页 > 技术文章 > 相位法测距仪的相关概述
产品列表

PROUCTS LIST

相位法测距仪的相关概述
发布时间: 2021-09-01  点击次数: 827次

相位法测距仪的相关概述

        相位测距一般用于精密测距。由于其精度高,一般为毫米级,为了有效地反射信号并将被测目标限制在与仪器精度相称的特定点上,这种测距仪配备了反射,称为协同目标。镜子。
        相位激光测距一般用于精密测距。由于其精度高,一般在毫米级,为了有效地反射信号并将被测目标限制在与仪器精度相称的特定点,这种测距仪配备了反射,称为协同目标。镜子。
        若调制光角频率为ω,在待测距离D上往返一次造成的相位延迟为φ,则对应的时间t可表示为:
         t=φ/ω
        将此关系代入(3-6) 距离D可表示为
        D=1/2 ct=1/2 c•φ/ω=c/(4πf) (Nπ+Δφ)
         =c/4f (N+ΔN)=U(N+)
        其中: φ——信号来回测量线一次引起的总相位延迟。
         ω——调制信号的角频率,ω=2πf。
         U——单位长度,取值等于1/4调制波长
        N——测量线包含的调制半波长数。
         Δφ——信号来回测量线时的相位延迟小于π。
         ΔN——测线中包含的调制波小于一半波长的小数部分。
         ΔN=φ/ω

在线客服 联系方式

服务热线

86-21-63504668

沪公网安备 31011402001953号