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数字式四探针测试仪|SZT-1|
数字式四探针测试仪|SZT-1|

产品型号: SZT-1 -

所属分类:测量仪

产品时间:2021-11-17

简要描述:数字式四探针测试仪|SZT-1|是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻(方块电阻),换上特制的四探针测试夹,还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外,探针经过特殊加工后,还可以测量薄膜材料电阻率。

详情介绍

数字式四探针测试仪|SZT-1|

是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻(方块电阻),换上特制的四探针测试夹,还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外,探针经过特殊加工后,还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位,对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针,定位准确,游移率小,使用寿命长。

数字式四探针测试仪|SZT-1|
技术参数:
1. 测量范围:
电阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
电阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω
方块电阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
导电类型鉴别:电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2. 可测半导体材料尺寸
直径:φ15~100 mm
长度:≤400mm
3. 测量方法:
轴向、断面均可
4. 显示方式:31/2,数显,极性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。
5. 恒流源:
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA
(3) 误差:±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%

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